SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.   仪器以大规模集成电路为核心部件,应用模拟和数字控制技术,配备微型电动升降测试台:采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.整套仪器体积小、功耗低、...

  SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.   仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ－710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快...

SDY-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都...

  XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测...

适用范围：　　该仪器运用四指针原理可对片状、块状、半导体材料径向、轴向和薄膜材料的电阻率及扩散层的方块电阻进行测量、可测量分子材料、新型材料的深层及材料电阻率等适用于半导体材料、器件、高等院校高分子材料等、科研单位等.3 1/2位数字显示四指针测量精确可靠可测方块电阻,电阻率,电阻带恒流源输出

运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然...

运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然...

BT700系列数字磁通计是利用电子积分原理制成，数字显示被测磁通量大小的仪器。它可对磁性材料整体性能进行检测，不仅可测量磁通值还可以通过制作专用线圈对磁性产品在装机状态下所需要达到的工作参数（工作状态的B值）进行直接检测，从而真正达到控制产品质量的目的。系列磁通计中有具有峰值保持功能的型号，可对瞬间的脉冲...

CY3010A晶片频率分选仪是用于测量1~60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（GY3010型须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。七位频率显示。CY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计显示，测试方便、准确。适用于石英...

Agilent 89600系列基于PC的矢量信号分析仪（VSA）的先进数字信号处理特性，特别是能适应新出现的通信标准给人以深刻印象。用户能通过89611A的优异特性，用自己的下转换器提供标称70MHz（+18MHz）的IF信号。随后由89611A进行数字化和信号记录，您能用它的软件在下转换器提供的频率范围访问各种矢量信号分析工具。 当与配置有...

89610A 基于PC的矢量信号分析仪（VSA）提供测量dc至40MHz基带信号的39MHz带宽。可增加用于直接I和Q输入的可选第二通道。分析仪的通道1+j通道2模式是分析仪带宽达到78MHz。若使用外部下转换器，就能在89640A的2.7GHz频率范围提供宽带矢量信号分析。通过用灵活的解调分析新出现的宽带制式信号，89610A能帮助您设计新的数字通...

89601A 矢量信号分析仪（VSA）软件提供众多的查错工具，可用于分析数字卫星视频信号和其它卫星信号、LMDS、802.11b无线局域网、802.11a和HiperLAN/2 OFDM无线局域网，以及蓝牙系统等。您可通过它的灵活解调分析新出现的宽带制式信号，以帮助设计新的数字通信系统。该分析仪具有独特的差错分析工具，包括自适应均衡，可帮助...

能按自己的需要，用89600S定制矢量信号分析仪定制89600系列基于PC的矢量信号分析仪。这种分段订购方式使您能购买所有需要的部件，例如用6槽或13槽VXI主机箱代替89610A或89640A捆绑中的4槽主机箱。也可要求包括其他VXI模块，以及在一台主机箱中同时包括基带和RF VSA系统。 　　89600S定制矢量信号分析仪能得到89600系列的所...

CS—150型系列晶体阻抗计是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（目前仅限CZ-150C、P型），机内带可调负载电容12pF～50pF（目前仅限CZ-150C、P型），且等效电阻和谐振频率直接读数。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。频段划分:1～2.2 MHz；2.2～5 MHz； 5～10 MHz；10～...

CS-100/100P型晶体阻抗计是用于测量石英晶体各项参数的设备。该型号是在我厂老产品CZ-8A石英晶体阻抗计的基础上进行优化改进的第四代产品，在保持原产品质量稳定、简单实用的优点的同时，将机械式频率调谐改进为电调谐，使频率调谐更加方便和可靠，并增加了测试静电容Co和阻抗合格时自动发出声光信号功能，且负载电容CL容量...

CS—327型系列晶体阻抗计是用于测量低频石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率 fL和负载谐振电阻RL，且等效电阻和谐振频率直接数字显示。频率范围：20 kHz～200 kHz起振电阻范围：0 ～100 kΩ激励功率：电流约2.0μA     P = I 2×ZX(注ZX为被测晶体等效阻抗)频率计测量准确度： 5&nbs...

CS-5A，CS-5C，CS-8A，CS-8C，CS-10A型晶体阻抗计是用于测量石英晶体等效电阻Rr及串联谐振频率fS，负载谐振频率fL及负载谐振电阻RL的设备(仅限带C型的仪器)。使用环境：a．环境温度：0~40 ℃；b．相对湿度：(20~90)%；c．大气压强：86~106 kPa。起振电阻范围：CS-8A/C:     1~10 MHz起振电阻范围为0~50...

用来测量小功率高频晶体管的特征频率fT值。fT测量范围：10-100MHZ

SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.本仪器可满足半导体材料、器件的研究生产单位对材料(棒材、片材)电阻率及扩散层、离子注入层、异型外延层和导电薄膜方块电阻测量的需要器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定...

输出频率：1Hz～1MHz4位LED显示 输出功率：10W（4Ω10Hz～100KHz）5W（4Ω100～200KHz）输出波形：正弦波，方波，TTL波 输出电平：1mVrms～10Vrms，3位LED显示衰　　减：0-80dB（10dB步进）正弦波失真：≤0.1%（1KHz～100KHz） ≤0.5%（10Hz～100KHz）方 波 沿；≤150ns 噪声电平：优于0.2mVp-p外测频率范围：1Hz...