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 NW-1640B函数信号发生器(SKU:00017795)
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 KH1460A合成信号发生器(SKU:00017806)
本产品适用于生产、科研、教学等单位对高龄敏度接收放大设备的测量、调试。特别是该仪器覆盖了超长波的完整频段,是超长波、长波、短波、接收设备测量调试的理想仪器,其综合性能是当前国最好的。高精度 高温定度 高分辨率 智能化 采用最新DDS技术本机还可以选配 IEE-488接口 实现程控操作调频特性:调幅深度:0~90%&nbs...
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 EE-1461/EE-1461A高频DDS合成信号发生器(SKU:00014856)
主要特点:◊100kHz-60MHz(EE-1461型) 100kHz-110MHz(EE-1461A型) ◊采用直接数字合成(DDS)技术◊采用可编程器件CPLD调制技术◊接口齐全,多种存贮功能◊可取代XFG-7等高频信号发生器◊采用SMT贴片工艺,可靠性高◊体积小:240×340×90(立方毫米)◊质量轻:3kg
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 SP-1000型数字合成扫频信号发生器(SKU:00030220)
    SP-1000型数字合成扫频信号发生器通过采用新技术、新器件实现高精度、宽频带的扫频源 ,仪器应用了DDS和锁相技术,使频率范围从 1MHz~1024MHz 能精确地分辨到100Hz,它既是一台高精度的扫频源,同时也是一台高精度的标准信号发生器。它被广泛地应用于高频和超高频领域中,对广播、电视、通讯及雷...
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 AV-1489型毫米波基波合成扫频信号发生器(SKU:00030846)
  AV-1489毫米波基波合成扫频信号发生器采用毫米波基波频率合成技术实现了110-170GHz的宽频率覆盖,具有输出功率大、频率分辨率高、频谱纯度高、快速扫频准确度高等特点,并具备GPIB、USB、LAN等接口适应各种集成环境。■输出功率大■快速扫频准确度高■频率分辨率高■频谱纯度高
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 AV-1488型宽带合成扫频信号发生器(SKU:00030847)
  AV-1488宽带合成扫频信号发生器是具有国际先进水平的高性能宽带合成扫频信号发生器。该 宽带合成扫频信号发生器可以以同轴方式实现从射频一直到 6毫米波段的超宽频域覆盖,产生高精度、快速连续可调的测试信号, 具有优良的相位噪声且频率范围宽、频率分辨率和准确度高、输出功率高、动态范围大,另外还具有程...
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 AV-1461高纯微波合成信号发生器(SKU:00030849)
  AV-1461高纯微波合成信号发生器具有优良的相位噪声且频率覆盖宽、频率分辨率和准确度高、输出功率高、动态范围大,另外还具有丰富的调制功能和程控、扩频功能。高纯微波合成信号发生器主要为电子装备测试提供模拟仿真信号,可用于对接收机的动态范围、检测灵敏度、选择性等指标进行测试。另外,AV1461高纯微波...
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 SGY系列动态应变仪(SKU:00018698)
采用了电子自动平衡技术,频率范围宽,精度高,输入阻抗高,低噪声,低漂移,稳定性好,采用拨盘开关校准,准确方便, 主要用于实验应力分析,动力强度,结构及材料任意变形的动态或动静态测量SGY2101-通用型八通道动态应变仪;采用电子自动平衡;宽频响,高阻抗,低噪声,低漂移;采用六线制,自动修正长导线误差;进行应力分析,动...
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 SGY系列静态应变仪(SKU:00018702)
测量范围宽,分辨率高,质量可靠,稳定性好,产品种类齐全,适合于高等学校及科研院所SGY2202-单机可测10点,无须预调平衡箱,使用方便,性能稳定,可以进行单臂,半桥,全桥测量SGY2203-单机可测20点,无须预调平衡箱,技术指标同SGY2202型SGY2206-单片机控制带打印输出,32点测试,可以进行单臂,半桥,全桥测量,应变系数可设定;自动...
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 晶体功率清洗器(SKU:00018883)
CS-1型晶体功率清洗器可起到老化晶体谐振器、稳定其频率的作用,经实验验证,该产品可明显降低晶体等效电阻(尤其是泛音晶体的等效电阻),从而降低晶体激励电平,提高晶体性能。其作用机理可参阅《压电晶体技术》2003年第1期第4~7页《关于晶体元件的DLD》一文。操作步骤:1.打开电源开关。2.根据晶体标称频率选择转换开...
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 MG1252宽带双通道频率特性测试仪(SKU:00018662)
通道工作方式: 分A、B通道和A/B通道同时显示三种工作方式,A通道线性显示,显示灵敏度1mV/div,B通道为对数显示,显示动态范围(75Ω系统大于55dB,50Ω系统为60dB,分每格1、2、5dB/div三档显示) 电平参考线 两根可在屏幕内垂直方向任意设置的电子参考线
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链接地址:http://www.mros.cn/public/17/53b6c45e76b70cfd19974fcf77c3592a.htm

 MG-BT3C宽带频率特性测试仪(SKU:00018663)
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 NW-1648功率函数信号发生器(SKU:00017796)
是XD-1、XFD-7A、XD-1B、XD-7等产品的替代仪器
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 D41-11C/ZM型四探针测试仪(SKU:00031953)
设备用于测量硅片的薄层电阻和电阻率,也能测量其他半导体片、膜的薄层电阻和电阻率,且可对扩散、外延、离子注入等工艺设置进行监测和评估,该测试仪还可用于镀膜玻璃行业对金属膜层的薄膜电阻进行测量。 1.采用工控机控制、基于WINDOWS98系统平台的测试程序,具有良好的人机界面。2.可以通过鼠标输入的方式选择测量项目、...
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 YH-1501T通信维修专用电源(SKU:00030017)
规格 *额定工作条件: *电源电压:220V±10% 50Hz *工作条件:温度:-10℃~40℃ 温度:<90% *储存条件:温度:-20℃~80℃ 温度:<80% *稳压工作状态 *输出电压:0-15V *负载稳定度:≤0.01±2mv *恢复时间:≤100us *纹波噪声≤1mvRms(有效值) *温度系数:≤300PPm/℃ *保护启动电流:>标称值的10% *外包箱尺寸:76cm*...
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 AV-3635型微波毫米波天线与RCS测试系统(SKU:00030991)
  微波毫米波天线是现代电子设备发射和接收信息的核心,研制满足不同用途的高性能天线已成为提高现代电子设备性能的一个重要课题;减小电子设备RCS和提高雷达探测RCS能力已成为主要研究内容。  AV-3635型微波毫米波天线与RCS自动测试系统采用了通用化、模块化的设计思想,具有通用性好,配置灵活等特点,通过选购不同的...
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 AV-4180型天线罩插入相位测试系统(SKU:00030985)
  插入相位延迟 IPD(insertion phase delay)是天线罩设计中的一项重要参数,其含义是穿过雷达天线罩的透射波的相位相对于移去罩子时在同一点上电磁波的相位延迟。由于天线罩的存在而引起的穿过天线口面的插入相位变化,会导致天线系统的增益受损,波束宽度改变,波束方向偏移以及旁瓣电平抬高。因此对罩子的IPD值进行...
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链接地址:http://www.mros.cn/public/7/70e57e78fd611128e6e6212c59c28b59.htm

 AV-4181型天线罩插入相位延迟测试系统(SKU:00030983)
  插入相位延迟 IPD(insertion phase delay)是天线罩设计中的一项重要参数,其含义是穿过天线罩的透射波的相位相对于移去罩子时在同一点上电磁波的相位延迟。由于天线罩的存在而引起的穿过天线口面的插入相位变化,会导致天线系统的增益受损,波束宽度改变,波束方向偏移以及旁瓣电平抬高。因此对罩子的IPD值进行有效...
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链接地址:http://www.mros.cn/public/16/a306a13c6c1ee387390fdc96c7bdca66.htm

 CR-3扼流圈天线(SKU:00028384)
    CR-3天线,专为参考站设计,零相位中心。采用四馈源技术,保证了天线的相位中心不随卫星的运动而变化,真正实现了天线的电学相位中心与天线的几何中心重合,提高了基线的观测精度。是世界独有的双频单深度低多路径扼流圈天线。    CR-3天线具有锥形保护层,不受周围雨水或者雷...
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 THB-1标准环形天线(适配XFG-7)(SKU:00024705)
频率范围:0.5~30MHz场强频响:±3dB阻抗:75Ω
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