技术参数：
双电测四探针测试仪；技术指标：测量范围：电阻率：10(-4)～10(5)Ω.cm(可扩展)；方块电阻：10(-3)～10(6)Ω/□(可扩展)；电导率：10(-5)～10(4)s/cm；电阻：10(-4)～10(5)Ω；可测晶片厚度：≤3mm；可测晶片直径：140mmX150mm(配sku：12454.2型测试台)；200mmX200mm(配sku：12454.3型测试台)；400mmX500mm(配sku：12454.4型测试台)；恒流源：电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调；数字电压表：量程及表示形式：000.00～199.99mV；分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；四探针探头基本指标：间距：1±0.01mm；针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数：(见探头附带的合格证)；模拟电阻测量相对误差（按JJG508-87进行）：0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字；整机测量最大相对误差(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)：≤±4%；整机测量标准不确定度：≤4%；计算机通讯接口：并口；标准使用环境：温度：23±2℃；相对湿度：≤65%；无高频干扰；无强光直射；产地：中国
产品描述：
尚尤提供此款双电测四探针测试仪；
采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，显著降低了几何因素影响，提高了测量结果的准确度。
此款为双电测，必须带软件使用，另有单电测，参见sku:237397
