四探针测试仪；技术指标：测量范围：电阻率：10-4～105 Ω.cm(可扩展)；方块电阻：10-3～106 Ω/□(可扩展)；电导率：10-5～104 s/cm；电阻：10-4～105 Ω；可测晶片直径：140mmX150mm(配sku：237397.2型测试台)；200mmX200mm(配sku：237397.3型测试台)；400mmX500mm(配sku：237397.4型测试台)；恒流源：电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调；数字电压表：量程及表示形式：000.00～199.99mV；分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；四探针探头基本指标：间距：1±0.01mm；针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数：(见探头附带的合格证)；模拟电阻测量相对误差：(按JJG508-87进行)：0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字；整机测量最大相对误差(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)：≤±5%；整机测量标准不确定度：≤5%；计算机通讯接口：并口；标准使用环境：温度：23±2℃；相对湿度：≤65%；无高频干扰；无强光直射；产地：中国

尚尤提供此款数字式四探针测试仪；
该仪器为多用途综合测量设备，运用四探针测量原理，按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器.
组成部分：由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成.
测量数据既可由主机直接显示.亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析.然后以表格.图形方式统计分析显示测试结果.

此款为单电测，不带软件可使用，另有双电测，参见sku:12454

暂无。