技术参数:
四探针测试仪(手持式);技术指标:测量范围:电阻率:0.01~1999.9Ω.cm;方块电阻:0.1~19999Ω/□;恒流源:电流量程分为100μA、1mA两档,两档电流连续可调;数字电压表 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV;输入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1%;显示:以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;极性、超量程自动显示;四探针探头基本指标 间距:1±0.01mm; 针间绝缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%;探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力);四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证) 模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87进行) 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字;整机测量最大相对误差 (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%;整机测量标准不确定度 ≤5%;外型尺寸 185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高);重量 350g;电源 锂电池,一次充电可连续使用100小时;标准使用环境 温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无高频干扰; 无强光直射;产地:中国
产品描述:
尚尤提供此款手持式四探针测试仪:
该仪器为多用途综合测量设备,运用四探针测量原理,按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
采用了最新电子技术进行设计、装配。具有、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑等特点
适用范围:半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。