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| 病理分析 |
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镀铬冲框标准筛(Φ100×50mm)(SKU:00017032)
标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： 由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌...
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铜冲框标准筛(Φ75×40mm)(SKU:00017033)
标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： 由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌...
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铜冲框标准筛(Φ50×35mm)(SKU:00017034)
标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： 由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌...
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镀铬冲框标准筛(Φ60×40mm)(SKU:00017036)
标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： 由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌...
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塑料框尼龙分样筛(SKU:00017066)
Φ200×50mm 标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框：&nb...
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冲框型砂筛(SKU:00017067)
200mm 标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： &nb...
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木框煤样筛(SKU:00017068)
0.2-150mm 标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品，还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面： 由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框： 由黄...
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石子筛、砂子筛(SKU:00018603)
Ф300新标准石子筛（9.5～0.075mm）Ф300新标准砂子筛(90～2.36mm)
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水泥标准筛(SKU:00020978)
用于检测水泥的细度，在无水筛器具时可用干筛检验。主要技术参数： 筛网目孔边长：0.08mm 水筛转速：50r/min 水筛水压：0.03～0.08MPa 水筛内径×高度：φ125×80mm 干筛内径×高度：φ150×50mm
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FB系列土壤分析筛（圆孔）、路面集料筛（方孔）(SKU:00024656)
用筛分法来分析测定土中各粒径的颗粒重量占干土 (砂) 总重量的百分比以及石料。主要技术指标：1. 筛框材料: 铜结构带有顶盖和底盘2. 筛网材料: 不锈钢和铜材3. 筛重: 七节筛为: 4kg 九节筛为: 9kg
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土壤分析筛、路面集料筛(SKU:00031019)
用筛分法来分析测定土（砂）中各粒径的颗粒重量占干土（砂）总重量的百分比以及石料。 主要技术参数： 筛框材料：铜结构带有顶盖和底盘 筛网材料：不锈钢和铜材 筛重：七节筛为:4Kg、九节筛为:9Kg
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SRM-232型方块电阻测试仪(SKU:00031963)
SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。1 轻便手持式设计 2 127个数据测试点保存 3 通过RS-232与电脑通讯
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ST-21型方块电阻测试仪(SKU:00031964)
四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，按国家标准和美国A.S.T.M标准设计，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻率）的新型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO导电膜玻璃）、金属膜……等同类物质的薄层电阻（表面电阻率）。* 轻便手持式设计操作、测试简便；*.特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测...
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HP-501型四探针探头(SKU:00031965)
HP-501型四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。1 特制之手握式探笔 2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 3 探头带抗静电模...
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SP-2型四探针探头(SKU:00031966)
*.探针材质碳化钨；* 针尖直径可选：1.6mil、5mil、10mil；*.探针间距可选：40mil、50mil、62.5mil；*.探针压力可选：45克、85克、180克；
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LT-2型单晶少子寿命测试仪(SKU:00031967)
LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
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ST-102A型手动探针测试台(SKU:00031972)
ST-102A型探针测试台（英文叫Prober station,中文又称中测台,点测机。)、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。标准配置：主工作台、显微镜、承片台、三维微调架2个、探针臂2支、探针2支。可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。
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ST-102B型手动探针测试台(SKU:00031973)
特性和规格跟ST-102A一样，不同处ST-102A用 显微镜监测、ST-102B用CCD+监视器
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S-2A型四探针测试台(SKU:00031974)
专为实验室使用而制作的。该测试台设计别致、操作简易、重量轻、并有微调手轮，便于探针与样品的精确接触。*.载物台：方盘140mm*150mm,带刻度线，便于 准确定位。*.有效行程：40mm、重量：2kg*.粗调手轮：20mm/圈、微调手轮：0.2mm/圈。
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S-2B型四探针测试架(SKU:00031975)
专为晶圆测试而特别制作的，最大可测8寸晶圆，盘面带刻度线便于晶圆定位。*.载物台：有效范围210mm×250mm*.有效行程：常规250mm，可增加到1000mm*.粗调手轮：20mm/圈*.重量3.5kg
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