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病理分析

 铝土盒(SKU:00017009)
    标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品,还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面:    由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框:    由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌)...
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链接地址:http://www.mros.cn/public/1/57a33a900c373d400a96043e9ef92461.htm

 SDY-5型双电测四探针测试仪(SKU:00031956)
SDY-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提高了测量结果的准确度仪器以大规模集成电路为核心部件,特别采用了平面轻触式开关设计和各种工作状态LED指示.并应用了微计...
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 RTS-5型双电测四探针测试仪(SKU:00031955)
采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测...
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链接地址:http://www.mros.cn/public/1/3e8ea9c2f373f6dfd09a50ad6bcf8cfa.htm

 RTS-9型双电测四探针测试仪(SKU:00031954)
采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测...
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链接地址:http://www.mros.cn/public/19/1f545e75bb38bd91a2d1ecdf4fd579a5.htm

 D41-11C/ZM型四探针测试仪(SKU:00031953)
设备用于测量硅片的薄层电阻和电阻率,也能测量其他半导体片、膜的薄层电阻和电阻率,且可对扩散、外延、离子注入等工艺设置进行监测和评估,该测试仪还可用于镀膜玻璃行业对金属膜层的薄膜电阻进行测量。 1.采用工控机控制、基于WINDOWS98系统平台的测试程序,具有良好的人机界面。2.可以通过鼠标输入的方式选择测量项目、...
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 SDY-4型四探针测试仪(SKU:00031952)
SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.本仪器可满足半导体材料、器件的研究生产单位对材料(棒材、片材)电阻率及扩散层、离子注入层、异型外延层和导电薄膜方块电阻测量的需要器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定...
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 RTS-4型四探针测试仪(SKU:00031951)
运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然...
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 RTS-8型四探针测试仪(SKU:00031950)
运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然...
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 ZS82四探针测试仪(SKU:00019172)
适用范围:  该仪器运用四指针原理可对片状、块状、半导体材料径向、轴向和薄膜材料的电阻率及扩散层的方块电阻进行测量、可测量分子材料、新型材料的深层及材料电阻率等适用于半导体材料、器件、高等院校高分子材料等、科研单位等.3 1/2位数字显示四指针测量精确可靠可测方块电阻,电阻率,电阻带恒流源输出
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 XX-2型方块电阻测试仪(手持式)(SKU:00016597)
  XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测...
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 SDY-5型双电测四探针测试仪(SKU:00016595)
SDY-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都...
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 SDY-4型四探针测试仪(SKU:00016594)
  SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.   仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术,利用HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快...
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 SDY-4型四探针测试仪(配DJ-1型电动测试台)(SKU:00016592)
   SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.   仪器以大规模集成电路为核心部件,应用模拟和数字控制技术,配备微型电动升降测试台:采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.整套仪器体积小、功耗低、...
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 LT-3型单晶少子寿命测试仪(SKU:00031969)
该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;余辉0.3Ω.cm;*.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;*.前置放大器:放大倍数约25;*.测量方式:采用对标准曲线读数方式;
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 DSY-II型单晶少子寿命测试仪(SKU:00031968)
用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成;*.测试单晶电阻率范围:>10Ω.cm*可测单晶少子寿命范围:20μS-5000μS;
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 分样筛(铜框)(SKU:00016921)
   标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品,还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面:    由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框:    由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌)塑料框筛等...
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 冲框标准筛(SKU:00016914)
   标准筛(高精度)分样筛(普通精度)等用于颗粒分析的系列产品,还有用于机械筛分、粉碎及试验用的等机械设备。一、筛面:    由黄铜、磷青铜、不锈钢丝网和园孔铁板以及尼龙网等金属和非金属材料构件。二、筛框:    由黄铜皮、不锈钢皮、冷轧铁皮(镀铬或锌)塑料框筛等...
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 铝/金属喷塑/不锈钢试管架(SKU:00014887)
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 5970系列长方形塑料试管架(Test Tube Racks)(SKU:00015506)
5970系列长方形试管架(Test Tube Racks): 全塑料一次成型,可放置试管或离心管,每种规格都有六种颜色选择。可高压灭菌。Polyketone材料。*另有白、黄、橙、蓝、绿五种颜色,产品编号分别为白色5970-01##(##指试管直径),橙色5970-01##,黄色5972-02##,蓝色5972-03##,绿色5972-04##。其它规格性能与下表一样...
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 SC系列不锈钢试管架(SKU:00015871)
不锈钢试管架  SC系列不锈钢试管架是我公司参照国际上流行的新型试管架研制开发的新一代实验,化验用品,它适用于医学检验及各学科实验室进行化验分析,试验时放置试管用。  由于合理的设计,他具有美观、轻巧、耐用及不易沾染细菌,易于清洁灭菌等优点,是现有各类试管架的理想替代产品。  ...
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